国内一些高校科研院所在解包裹方面的创新

西安交通大学的王新[34，35]等人针对检测对象为复杂非连续物体，提出了新的解包裹算法。其中数字散斑相位图解包裹算法采用了光学相位反相相减图像的方法来检测并标识出相位间断区，使去包裹过程只在相位有效区域进行，从而准确快速地实现全场有效区域的相位去包裹，并能有效地避开大面积的相位间断区。

杭州电子科技大学的郭春生[36]研究了优化的区域增长二维相位解包裹方法，该方法选取出合适的种子并对种子相位值进行了优化处理，算法的计算量与干涉相位图的像素点数成近似线性关系，可以通过并行处理进一步提高计算效率，其解包裹后的相位条纹与原始干涉相位图相位条纹的一致性非常好。

国防科大的雷志辉[37]等人提出一种基于双频投影条纹的全自动相位解包裹方法，推导了利用该双频条纹的相位主值获取真实相位场的公式。在利用公式进行解包裹时，各点的相位求取都是单独进行的，因此不会出现误差传递的现象，同时求解的相位场保持了相移法求解的相位精度。

西北工业大学的王军[38]等人提出了相位图去包裹的一种新的综合方法。建立了一个消除局部不连续点的模型，可有效地消除包裹相位图中的不连续点；在此基础上进行多方向去包裹运算，然后求其平均值，从而达到与路径无关的目的。这种方法既具有很强的抗噪声能力，又能很好地处理较大面积的欠采样区域，并且具有较高的稳定性和处理效率

天津大学的黄玉波[39]等人提出一种基于模板的广度优先搜索相位展开方法。通过模板的使用，将非相容区域标记出来，在相位解包裹的过程中绕过这些区域，即可得到准确可靠的相位展开结果。并且使用不同模板可以根据不同应用的需要灵活而准确地实现微纳结构表面 3-D 轮廓测量中的相位展开

国内除了在新算法上进行了研究，还对现有的算法作了一定的改进，并围绕解包裹算法相关方面做了一些工作。华中科技大学的陈家凤[40]等人在分支切割算法的基础上提出了改进的相邻相位解包裹算法，改进后的算法不但具有分支切割算法的优点，还可以适用于分支切割算法不能解决的较多残差点的情况，而且精度高

北京航空航天大学的李文强[41]等在分支切割法的基础上，提出了根据残差点生成质量控制图，运用三叉数堆栈的方法，选择最优的积分路径，阻止了由于切割线设置错误所引起的误差传播，优化了算法，提高了解包裹精度。

四川大学的苏显渝[42]等人研究了干涉图质量参数指导的排序相位解包裹算法，有效减小了跳变相位中无效点对结果的影响，限制了局部误差传递。此外，他们还在时间相位解包裹算法方面做了一些工作[43]。

上海光机所的朱勇建[44]等人用模拟的干涉图获得相位导数偏差质量图,并根据调制度结合相位梯度构造出新的质量图。再以新质量图数据为权值,采用加权最小二乘解包裹算法验证了新质量图的可靠性。